產(chǎn)品搜索 Search
產(chǎn)品目錄 Product catalog
- 日本島津
- LCMS 9030
- ROHS檢測(cè)儀出租,分析儀如何租賃
- 熱機(jī)械分析儀
- 總有機(jī)碳分析儀TOC-L
- 島津能量色散型EDX
- rohs儀
- 進(jìn)口光電直讀光譜儀
- 重金屬檢測(cè)原子吸收光譜儀
- 島津氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀GCMS
- 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS
- 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICPMS
- 微焦點(diǎn)X射線無(wú)損透視儀SMX-1000L/1000puls
- HPLC高效液相色譜檢測(cè)儀
- 重金屬檢測(cè)原子吸收分光光度計(jì)
- 液相色譜儀
- 氣相色譜儀
- 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀GCMS
- 液相色譜質(zhì)譜儀
- X射線衍射儀
- 原子吸收分光光度計(jì)
- 紫外分光光度計(jì)
- 島津等離子體發(fā)射光譜儀
- ROHS檢測(cè)儀出租
- ROHS檢測(cè)儀廠家租賃
- 二手ROHS檢測(cè)儀器
- 二手ROHS分析儀器
- 日本電子-掃面電鏡系列
- 沃特世
- 膜厚儀
- 粒度分析儀
- 儀器租賃
- ROHS儀器維修
- 二手儀器-光譜-色譜-質(zhì)譜
- 二手賽默飛色譜儀GC
- 二手氣質(zhì)質(zhì)GC-MSMS
- 二手手持式光譜儀XL2
- 二手gcms7890A+5975C
- 二手gcms氣質(zhì)聯(lián)用儀
- 二手島津dsc tma tga
- 二手icp 二手icp光譜儀
- 二手島津PY-GCMS檢測(cè)儀
- 二手PY-3030D
- 二手GCMS-PY-3030D
- dsc二手差示掃描量熱儀
- 二手ICP重金屬檢測(cè)儀
- PE(二手)ICP光譜儀
- 安捷倫(2手)ICP-MS光譜
- shimadzu(2手)dsc-60plus
- 二手熱分析儀dsc-60plus
- shimadzu二手dsc60-plus
- 二手島津dsc-60plus
- 美國(guó)pe二手dma分析儀
- 二手動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀DMA
- 二手dsc tga同步熱分析儀
- 二手 ta dsc q10
- 二手差示掃描量熱儀
- 供應(yīng)TA二手DSC-Q20
- 二手TGA DSC同步熱分析儀
- 二手TA同步熱分析儀SDT
- 二手tga熱重分析儀
- 美國(guó)TA二手DSC-Q100
- 二手gc-2014
- 美國(guó)PE二手TGA熱重分析儀
- TA二手dsc分析儀
- 二手dsc差示掃描量熱儀
- PE二手ICP-OES光譜儀
- 安捷倫(二手)icp-ms
- 二手TA差示掃描量熱儀DSC
- (二手)安捷倫ICP-MS
- (二手)原子吸收AA-800
- (二手)原子吸收石墨爐AA
- (2手)ICP-OES光譜儀
- 二手agilent ICP-MS
- 二手島津液質(zhì)LC-MSMS
- 安接倫二手icp-ms
- 二手ICP-AES重金屬檢測(cè)儀
- 二手ICP-5300DV/8000
- 二手gc-ms
- 二手安捷倫氣質(zhì)7890+5975C
- shimadzu二手aas
- 二手Agilent7890A+5975C
- 二手氣質(zhì)聯(lián)用7890A+5975C
- 二手ICP光譜PE-8000/5300
- 供應(yīng)PE二手icp-oes
- 二手掃描電鏡SEM+EDX出售
- 二手光譜ICP-OES
- 二手PerkinElmer光譜儀ICP
- 二手FOSS全自動(dòng)索氏抽提儀
- 安捷倫二手ICP-ms
- 二手液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀
- 9成新二手Waters液相色譜
- 二手ICP-OES光譜儀
- 二手icp-oes8000光譜儀
- 進(jìn)口PE二手5300DVICP光譜儀
- Waters二手HPLC
- 二手Thermo火焰-石墨爐
- 二手島津紫外UV-1240
- 二手賽默飛紅外光譜儀
- 二手安捷倫icp-ms
- 二手TADSCQ20
- 進(jìn)口島津二手phlc
- 二手ICP-OES/ICP-AES
- 二手梅特勒電位滴定T50
- 二手梅特勒水分儀
- 二手島津lc-20a液相
- 二手安捷倫78900A+7697A
- 二手島津HPLC液相
- 二手高效液相色譜儀
- 二手waters液相2695+2489
- 二手島津原吸AA-6300C
- 島津二手gcms
- 二手Agilentlc-1260
- 二手三重四極桿lc-msms
- 二手進(jìn)口液質(zhì)質(zhì)LC-MSMS
- 二手島津紫外分光光度計(jì)UV
- 二手PE光譜儀ICP-8000
- 二手萬(wàn)通離子色譜儀
- 二手島津氣質(zhì)聯(lián)用儀GCMS
- 二手島津檢測(cè)儀EDX-7000
- 二手原子吸收石墨爐一體機(jī)
- 二手原子熒光AFS
- 二手ICP
- 二手ICP光譜儀
- 二手熒光光譜分析儀EDX-LE
- 供應(yīng)二手ROHS儀EDX-LE/GP
- 二手島津EDX-LE
- 二手全新液質(zhì)質(zhì)
- dsc差示掃描熱量?jī)x
- 二手實(shí)驗(yàn)室分析儀器
- 二手掃描電鏡+EDS能譜儀
- 氣相色譜
- 液質(zhì)聯(lián)用儀
- 微波消解儀
- X透視儀
- 鋰電池充放電設(shè)備
- 愛(ài)斯派克恒溫恒濕
- 二手氣質(zhì)聯(lián)用質(zhì)譜儀GCMS
- 電子掃描電鏡SEM
- 工業(yè)氣體配送
- 美國(guó)麥克表面分析儀器
- 美國(guó)PE
- 德國(guó)耶拿
- 美國(guó)安捷倫
- 瑞士萬(wàn)通
- 德國(guó)布魯克
- 美國(guó)力可儀器
- 安東帕儀器
- 蔡司SEM掃描電鏡
- 梅特勒儀器
- 化學(xué)分析儀器回收
- 美國(guó)AB
- 北京吉天儀器
- 萊伯泰科
- 日本島津--質(zhì)譜系列
- 日本島津--色譜系列
- 日本島津--EDX系列
- 日本島津--光譜系列
- 光學(xué)測(cè)量?jī)x器--投影儀
- 日本島津--光譜質(zhì)譜系列
- 賽默飛光譜系列
- 日本島津--X射線透視系列
- 化學(xué)實(shí)驗(yàn)室儀器回收
- ABI測(cè)序儀
- 二手電鏡SEM+EDX
- 二手儀器--熱分析儀器
深圳市心怡創(chuàng)科技有限公司
銷售電話:
銷售傳真:13723416768
公司郵箱:[email protected]
辦公地址:深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道南昌社區(qū)深圳前灣硬科技產(chǎn)業(yè)園B棟608-609
銷售電話:
銷售傳真:13723416768
公司郵箱:[email protected]
辦公地址:深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道南昌社區(qū)深圳前灣硬科技產(chǎn)業(yè)園B棟608-609
在進(jìn)行微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)時(shí)有一個(gè)與常規(guī)X射線檢測(cè)很大的不同
點(diǎn)擊次數(shù):568 更新時(shí)間:2021-12-08
所謂的微焦點(diǎn)X射線機(jī)是焦點(diǎn)尺寸可以達(dá)到幾個(gè)微米,并且能夠在0~225kV或更高恒電壓模式下,以一定的功率(通常最高為320W)連續(xù)工作的X射線機(jī)。 微焦點(diǎn)X射線機(jī)的焦點(diǎn)尺寸通??梢赃B續(xù)可調(diào),從幾微米直到0.2毫米或更高。
與常規(guī)X射線管相同,微焦點(diǎn)X射線管的陽(yáng)極也是用循環(huán)油或水來(lái)冷卻。 與常規(guī)X射線機(jī)不同的是,用于無(wú)損檢測(cè)的微焦點(diǎn)X射線管是用真空泵來(lái)維持X射線管內(nèi)的真空度(約為10-7)。
微焦點(diǎn)X射線管可以很方便的打開(kāi)(即開(kāi)放式或稱為開(kāi)管),用來(lái)更換不同的靶材以產(chǎn)生不同的X射線頻譜;更換不同形狀及大小的X射線窗口;以及更換陽(yáng)極的類型… 如換上各種直徑和長(zhǎng)度的棒陽(yáng)極,以滿足不同檢測(cè)任務(wù)的需要。
這些陽(yáng)極棒的長(zhǎng)度可達(dá)1500毫米,直徑可從18毫米一直小到4毫米。使用如此小的棒陽(yáng)極,我們可以用單壁內(nèi)透照方式,以未有的缺陷檢測(cè)靈敏度進(jìn)行射線檢測(cè)。
需要考慮的是X射線束視場(chǎng)直徑或稱錐束角。 進(jìn)行微焦點(diǎn)X射線檢測(cè),當(dāng)焦距很近時(shí),錐束角或視場(chǎng)范圍非常重要。例如,25°錐角的微焦點(diǎn)X射線機(jī)的曝光次數(shù)要小于15°錐角的微焦點(diǎn)X射線機(jī)在檢測(cè)相同范圍時(shí)的曝光次數(shù)。
另一個(gè)需要考慮的是焦點(diǎn)到X射線管窗口外表面的距離,它決定了被檢樣品到焦點(diǎn)的最小距離。 這一參數(shù)的重要性在于它決定了一個(gè)微焦點(diǎn)系統(tǒng)可能達(dá)到的最大放大倍數(shù)。
由于防護(hù)設(shè)施空間的局限以及射線的衰減與距離的平方成反比(I/R2 ),我們無(wú)法隨意拉長(zhǎng)膠片或探測(cè)器到射線源的距離以增大放大倍數(shù)。
在進(jìn)行微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)時(shí)有一個(gè)與常規(guī)X射線檢測(cè)很大的不同:我們通常不需要考慮圖像半影的大小,即通常不考慮幾何不清晰度的影響。
原因是當(dāng)焦點(diǎn)尺寸足夠小時(shí),半影可以忽略不計(jì)。 因此我們可以在X射線視場(chǎng)可接受的情況下,盡可能減小被檢樣品到焦點(diǎn)的距離。