產(chǎn)品名稱：供應(yīng)日立（二手）場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2024-02-29
產(chǎn)品特點(diǎn)：供應(yīng)日立（二手）場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號(hào)掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級(jí)別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實(shí)現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測(cè)。配備兩種物鏡模式（浸沒(méi)式和無(wú)場(chǎng)式）。配備紅外CCD檢測(cè)相機(jī)，極靴內(nèi)二次電子檢測(cè)器，通用ET二次電子檢測(cè)器，低真空二次電子檢測(cè)
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
供應(yīng)日立（二手）場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡技術(shù)參數(shù)：
◆ 電子槍：冷陰極場(chǎng)發(fā)射電子源
◆ 分辨率：1.0 nm 保證 ( 加速電壓 15 kV，WD = 4 mm )，1.4 nm 保證 ( 加速電壓 1 kV，WD = 1.5 mm，減速模式 )，2.0 nm 保證 ( 加速電壓 1 kV，WD = 1.5 mm，普通模式 )
◆ 放大倍數(shù)：20 - 800,000
◆ 冷凍傳輸設(shè)備：冷臺(tái)溫度 190 - 130 ℃ ，可進(jìn)行冷凍斷裂和噴金
儀器主要功能及應(yīng)用：
主要功能
◆ 新型物鏡采用EXB設(shè)計(jì)。使用單檢測(cè)器和超級(jí)EXB可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號(hào)
◆ 1 KV低加速電壓時(shí)保證有2.0 nm的分辨率
◆ 兩種樣品臺(tái)可選：I型50 mm × 50 mm小樣品臺(tái)或II型110 mm × 110 mm大樣品臺(tái)
◆ 包括渦輪分子泵在內(nèi)的*進(jìn)的真空系統(tǒng)
◆ 便于用戶使用的、基于圖形用戶界面的控制系統(tǒng)，包含多種自動(dòng)功能，操作簡(jiǎn)易
儀器使用步驟及注意事項(xiàng):
1. 開(kāi)機(jī)
a. 檢查真空、循環(huán)水狀態(tài)。
b. 開(kāi)啟“Display"電源。
c. 根據(jù)提示輸入用戶名和密碼 ( 出廠設(shè)置為空 ) ，啟動(dòng)電鏡程序。
2. 樣品放置、撤出、交換
a. 嚴(yán)格按照高度規(guī)定高樣品臺(tái)，制樣，固定。
b. 按交換艙上“Air"鍵放氣，蜂鳴器響后將樣品臺(tái)放入，旋轉(zhuǎn)樣品桿至“Lock"位，合上交換艙，按“Evac"鍵抽氣，蜂鳴器響后按“Open"鍵打開(kāi)樣品艙門(mén)，推入樣品臺(tái)，旋轉(zhuǎn)樣品桿至“Unlock"位后抽出，按“Close"鍵。
3. 觀察與拍照
a. 根據(jù)樣品特性與觀察要求，在操作面板上選擇合適的加速電壓與束流，按“On"鍵加高壓。
b. 用滾輪將樣品臺(tái)定位至觀察點(diǎn)，擰Z軸旋鈕 ( 3軸馬達(dá)臺(tái) ) 或在操作界面中調(diào)整樣品臺(tái)高度 ( 5軸馬達(dá)臺(tái) ) 。
c. 選擇合適的放大倍數(shù)，點(diǎn)擊“Align"鍵，調(diào)節(jié)旋鈕盤(pán)，逐步調(diào)整電子束位置、物鏡光闌對(duì)中、消像散基準(zhǔn)。
d. 在“TV"或“Fast"掃描模式下定位觀察區(qū)域，在“Red"掃描模式下聚焦、消像散，在“Slow"或“Cssc"掃描模式下拍照。
e. 選擇合適的圖像大小與拍攝方法，按“Capture"拍照。
f. 根據(jù)要求選擇照片注釋內(nèi)容，保存照片。
4. 關(guān)機(jī)
a. 將樣品臺(tái)高度調(diào)回80 mm。
b. 按“Home"鍵使樣品臺(tái)回到初始狀態(tài)。
c. “Home"指示燈停止閃爍后，撤出樣品臺(tái)，合上樣品艙。
d. 退出程序，關(guān)閉“Display"電源。
5. 注意事項(xiàng)
a. 每天第一次加高壓后，做一次Flashing。
b. 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡一般不斷電，如遇特殊情況需要大關(guān)機(jī)時(shí)，依次關(guān)閉主機(jī)正面的“Stage"電源、“Evac"電源，半小時(shí)后關(guān)閉離子泵開(kāi)關(guān)和顯示單元背面的三個(gè)空氣開(kāi)關(guān)，關(guān)閉循環(huán)水。開(kāi)機(jī)時(shí)順序相反。
供應(yīng)日立（二手）場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡儀器功能和附件
功能：
1）觀察高分辨的微觀結(jié)構(gòu)與形貌；
2）能譜用于材料的微區(qū)成分定性、定量分析；
附件：
能譜儀、英國(guó)Quorum離子濺射儀、臨界點(diǎn)干燥儀
儀器使用范圍
廣泛應(yīng)用于材料、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、物理、地礦、化工、化學(xué)、冶金、機(jī)械、制藥等多個(gè)領(lǐng)域的科學(xué)研究和質(zhì)量檢測(cè)。
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